熱門關鍵詞： 測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設備，波片相位延遲，剪切
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光學表面質量檢測系統是一款革命性的光學表面 質量檢測系統，具備高重復性和準確性。
非接觸式測厚儀采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。可單次測量多層膜，最高可測 20 層。
夏克哈特曼傳感器集合了干涉儀、光束分析儀、自準直儀及四象限探測器優點于一身，具有測量速度快、精度高、尺寸小巧的特點。
干涉儀：非接觸式技術檢測拋光平面和球面的精度（功率、不規則度）；測試表面半徑；檢測目標傳輸波前畸變（TWD)。
傳真：010-68214292
郵箱：gloria.yang@opcrown.com
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